Leeb452 表面粗糙度仪 表面光洁度仪 无锡粗糙度测试仪测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统

Leeb431表面粗糙度仪 光洁度仪 无锡粗糙度计传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统。

Leeb430数显表面粗糙度仪 光洁度仪 粗糙度计输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统

leeb451粗糙度仪表面 表面光洁度仪 粗糙度测试仪 测量范围 Ra:0.05-10.0µm；Rz:0.1-50µm