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Leeb430数显表面粗糙度仪 光洁度仪 粗糙度计

  • 更新时间:  2023-11-13
  • 产品型号:  
  • 简单描述
  • Leeb430数显表面粗糙度仪 光洁度仪 粗糙度计输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统
详细介绍

Leeb430数显表面粗糙度仪 光洁度仪 粗糙度计测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度,此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统。

技术参数

 

leeb430

leeb431

测量参数

RaRyRqRzRtRSmRSRpRvR3zRSkRmaxRmr

RaRzRqRt

量程范围

±20μm±40μm±80μm

zui高显示分辨率

0.001μm

滤波方式

RCPC-RCGAUSSD-P

取样长度

0.25mm0.8mm2.5mm

评定长度

1L-5L(可选),L为取样长度

5LL为取样长度

示值误差

≤±10

示值变动性

≤6

针尖角度

90°

显示方式

128×64点阵液晶

工作环境

温度:(1040)°C,相对湿度:<90%

重量

440g

外型尺寸

119×47×65mm

标准

ISODINANSIJIS

ISOGB

标准配置

主机、标准传感器、电源适配器、多刻线样板、传感器护套、支架

可选配

曲面、小孔传感器、深槽传感器,接长杆,测量平台,打印机,、PC分析软件


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